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产品详情

太阳能单晶硅片测厚仪

  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:太阳能单晶硅片测厚仪
  • 产品型号:CHY-C2
  • 产品展商:其它品牌
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍

太阳能单晶硅片测厚仪-济南辰驰生产的CHY-C2款测厚仪,可用于单晶硅片厚度的检测,测试分辩率高达0.1微米,完全满足单晶硅片对厚度高精度测试的要求。太阳能单晶硅片测厚仪

产品描述

太阳能单晶硅片测厚仪关键词:单晶硅片测厚仪、单晶硅片厚度检测仪器、单晶硅片厚度测量仪器、单晶硅片厚度测试仪

                      

济南辰驰生产的CHY-C2款测厚仪,可用于单晶硅片厚度的检测,测试分辩率高达0.1微米,完全满足单晶硅片对厚度高精度测试的要求;同时测试幅面宽度可以达到400mm,完全满足单晶硅片整个幅面厚度测试的要求。CHY-C2测厚仪除了具备高精度、高效率等特点外,还采用测量样品自动前进驱动系统,大大提高了测试效率,充分满足用户连续高效测试的要求,并配有专业软件支持,操作方便、人机交互友好。
1、太阳能单晶硅片测厚仪结构组成
CHY-C2测厚仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量,并输出相应电信号;控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等;打印输出系统的功能是统计结果的输出,打印试验结果。
2、太阳能单晶硅片测厚仪功能原理
CHY-C2测厚仪确保测量结果的高精确性,多次测量结果的高度一致性;且操作调试极其方便,几近于自动化操作,较大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响;并具有手动、自动两种测量模式,对于手动模式测量,可打印输出测量结果,对于自动模式测量,可按照预先设置好的次数自动测试,并对测量结果进行统计、分析、打印输出;接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。

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